X射線熒光光譜儀的無(wú)標(biāo)樣和定量分析方法如下：

　　一、X射線熒光光譜儀無(wú)標(biāo)樣分析方法

　　對(duì)于以固體進(jìn)樣為主的X射線熒光分析技術(shù)，要獲得一套高質(zhì)量的固體標(biāo)準(zhǔn)樣品有一定難度，限制了X射線熒光分析的應(yīng)用范圍。
 

　　而X射線熒光光譜無(wú)標(biāo)樣分析技術(shù)是90年代推出的新技術(shù)，其目的是不用標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以分析各種樣品。它的基本思路是：由儀器制造商測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣品，儲(chǔ)存強(qiáng)度和工作曲線，然后將這些數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)到用戶的X射線熒光分析系統(tǒng)中，并用隨軟件提供的參考樣品校正儀器漂移。因此，無(wú)標(biāo)樣分析不是不需要標(biāo)樣，而是將工作曲線的繪制由儀器制造商來做，用戶將用戶儀器和廠家儀器之間的計(jì)數(shù)強(qiáng)度差異進(jìn)行校正。其優(yōu)點(diǎn)是采用了制造商的標(biāo)樣、經(jīng)驗(yàn)與知識(shí)，包括測(cè)量條件，自動(dòng)譜線識(shí)辨，背景扣除，譜線重疊校正，基體校正等。無(wú)標(biāo)樣分析技術(shù)可以在沒有標(biāo)準(zhǔn)樣品的情況下分析各種樣品中的七十幾個(gè)元素，應(yīng)用范圍較廣，但其適用性也帶來了分析準(zhǔn)確度的局限性。
 

　　二、X射線熒光光譜儀定量分析方法

　　X射線熒光光譜法是一種相對(duì)分析方法，光譜儀只提供X射線熒光的強(qiáng)度，要找到熒光強(qiáng)度與樣品濃度的關(guān)系，需要一套高質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)元素的濃度和已測(cè)的該元素的特征譜線的強(qiáng)度按一定關(guān)系進(jìn)行擬合繪制工作曲線，以該工作曲線為基礎(chǔ)測(cè)試同類型樣品元素的組成和含量。
 

　　以上就是X射線熒光光譜儀的兩種分析方法介紹，供大家參考！